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電壓暫降、短時中斷是由電網(wǎng)、電力設(shè)施的故障或負荷突然出現(xiàn)大的變化引起的。在某些情況下會出現(xiàn)兩次或更多次連續(xù)的暫降或中斷。電壓變化是由連接到電網(wǎng)的負荷連續(xù)變化引起的。如果EUT對電源電壓的變化不能及時做出反應(yīng)，就有可能引發(fā)故障。周波跌落發(fā)生器用于評估電氣和電子設(shè)備在遭受電壓暫降、短時中斷和電壓變化時的性能，產(chǎn)品滿足IEC61000-4-11和GB/T17626.11等新標準要求。
直流跌落發(fā)生器VDT DC主要針對由直流配電系統(tǒng)供電的電氣和電子設(shè)備在運行時，受到供電電源電壓暫降、短時中斷或電壓變化的抗擾度所帶來的影響提供一個評定依據(jù)。直流電壓跌落發(fā)生器VDT DC性能符合IEC61000-4-29和 GB/T17626.29的要求。
電壓暫降、短時中斷是由電網(wǎng)、電力設(shè)施的故障或負荷突然出現(xiàn)大的變化引起的。在某些情況下會出現(xiàn)兩次或更多次連續(xù)的暫降或中斷。電壓變化是由連接到電網(wǎng)的負荷連續(xù)變化引起的。如果EUT對電源電壓的變化不能及時做出反應(yīng)，就有可能引發(fā)故障。周波跌落發(fā)生器用于評估電氣和電子設(shè)備在遭受電壓暫降、短時中斷和電壓變化時的性能，產(chǎn)品滿足IEC61000-4-11和GB/T17626.11等新標準要求。
電壓暫降、短時中斷是由電網(wǎng)、電力設(shè)施的故障或負荷突然出現(xiàn)大的變化引起的。在某些情況下會出現(xiàn)兩次或更多次連續(xù)的暫降或中斷。電壓變化是由連接到電網(wǎng)的負荷連續(xù)變化引起的。如果EUT對電源電壓的變化不能及時做出反應(yīng)，就有可能引發(fā)故障。電壓跌落測試儀用于評估電氣和電子設(shè)備在遭受電壓暫降、短時中斷和電壓變化時的性能，產(chǎn)品滿足IEC61000-4-11和GB/T17626.11等新標準要求。
電壓暫降、短時中斷是由電網(wǎng)、電力設(shè)施的故障或負荷突然出現(xiàn)大的變化引起的。在某些情況下會出現(xiàn)兩次或更多次連續(xù)的暫降或中斷。電壓變化是由連接到電網(wǎng)的負荷連續(xù)變化引起的。如果EUT對電源電壓的變化不能及時做出反應(yīng)，就有可能引發(fā)故障。電壓跌落測試儀用于評估電氣和電子設(shè)備在遭受電壓暫降、短時中斷和電壓變化時的性能，產(chǎn)品滿足IEC61000-4-11和GB/T17626.11等新標準要求。
電壓暫降、短時中斷是由電網(wǎng)、電力設(shè)施的故障或負荷突然出現(xiàn)大的變化引起的。在某些情況下會出現(xiàn)兩次或更多次連續(xù)的暫降或中斷。電壓變化是由連接到電網(wǎng)的負荷連續(xù)變化引起的。如果EUT對電源電壓的變化不能及時做出反應(yīng)，就有可能引發(fā)故障。電壓跌落發(fā)生器用于評估電氣和電子設(shè)備在遭受電壓暫降、短時中斷和電壓變化時的性能 符合標準：GB/T 17626.11《電磁兼容 試驗和測量技術(shù) 電壓跌落、短時中斷和電壓變化的抗擾度試驗》 、IEC61000-4-11：Electromagnetic compatibility-Testing and measurement techniques-Voltage dips,short interruptions and voltage variations immunity test
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